5

Surface and interface analysis for the development of VLSI devices

Année:
1989
Langue:
english
Fichier:
PDF, 1.01 MB
english, 1989
10

In-situ trace analysis of materials with SIMS

Année:
1983
Langue:
english
Fichier:
PDF, 2.23 MB
english, 1983
17

SOLITARY ASPERGILLOSIS OF MAXILLARY SINUS, A COMPLICATION OF DENTAL TREATMENT

Année:
1983
Langue:
english
Fichier:
PDF, 174 KB
english, 1983
31

Book Review: Enrichment Techniques for Inorganic Trace Analysis. By A. Mizuike

Année:
1984
Langue:
english
Fichier:
PDF, 146 KB
english, 1984
33

Sekundärionen-Massenspektrometrie

Année:
1994
Langue:
german
Fichier:
PDF, 6.33 MB
german, 1994
39

Neural networks for library search of ultraviolet spectra

Année:
1994
Langue:
english
Fichier:
PDF, 1.23 MB
english, 1994
42

Ion microprobe analysis of technical materials

Année:
1988
Langue:
english
Fichier:
PDF, 8.94 MB
english, 1988
43

Secondary ion mass spectrometry (SIMS) of silicon

Année:
1989
Langue:
english
Fichier:
PDF, 1.33 MB
english, 1989
45

Surface analysis of semiconductors with SIMS

Année:
1984
Langue:
english
Fichier:
PDF, 985 KB
english, 1984
47

In situ microanalysis—a survey of some major new developments

Année:
1986
Langue:
english
Fichier:
PDF, 442 KB
english, 1986
48

Analysis of airborne particles

Année:
1987
Langue:
english
Fichier:
PDF, 293 KB
english, 1987
49

5th symposium on applied surface analysis : held in Jülich, F.R.G. 21–24 June, 1988

Année:
1988
Langue:
english
Fichier:
PDF, 139 KB
english, 1988
50

Data treatment in atomic spectroscopy

Année:
1988
Langue:
english
Fichier:
PDF, 268 KB
english, 1988